Der er nye udfordringer i måleverdenen, bl.a. på grund af nye fremstilling metoder så som ”Additive Manufacturing”. Denne nye teknologi kræver nye tiltag inden for måleområdet , da der kan opstå andre udfordringer end på de kendte fra almindelige fremstillings metoder.
En anden tendens, der karakteriserer metrologi lige nu er brugen af ”non-contact” måleudstyr til karakterisering af overflade egenskaber.På Metrologidagen sætter vi fokus på ”Additive Manufacturing” og ”non-contact” måleudstyr. På Metrologidagen vil også være en poster session, hvor relevante metrologiske projekter præsenteres og diskuteres.Teknologisk Institut er vært for ”Metrologidagen 2018”, som afholdes i Aarhus den 28. maj. Metrologidagen er organiseret i et samarbejde mellem Teknologisk Institut, FORCE Technology og DFM.